ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП SEM TM-1000 С СИСТЕМОЙ МИКРОАНАЛИЗА HITACHI, ЯПОНИЯ, 2009 Г.В.

Предназначен для просмотра изображений образца, облучаемого сфокусированным электронным лучом 

Сканирующий электронный микроскоп предназначен для просмотра изображений образца, облучаемого сфокусированным электронным лучом. Изображение получают благодаря регистрации электронов, рассеянных поверхностью образца в обратном направлении. Просмотр образца может проводиться при столь высокой степени увеличения, которая не доступна при работе с обычными оптическими микроскопами. Благодаря большей глубине резкости, удается получать стереоскопическое изображение. Не требуется трудоемкой подготовки образца и осложненной настройки условий наблюдения. Можно исследовать образцы с диаметром до 70 мм и с толщиной до 20 мм. Кроме того, управление микроскопом обеспечивается портативной вычислительной машиной. Удается пользоваться заложенными в нее выгодными функциями (автоматическая фокусировка, автоматическая настройка яркости и др.). Микроскоп ТМ-1000 полезен специалистам, работающим в областях материаловедения, биологии, контроля качества, специалистов ВУЗов и т.д.

Институт общей и экспериментальной биологии СО РАН 670047, Улан-Удэ, ул. Сахьяновой, 6; E-mail: khamnu@mail.ru

Хамнуева Татьяна Романовна